【作者】：傅惠南 ，王宏霞，王曉紅，區(qū)仲榮

       【單位】：廣東工業(yè)大學(xué)機(jī)電學(xué)院，廣東 廣州 510090

       【摘要】：

        探針是掃描探針顯微鏡的核心部分，結(jié)構(gòu)及針尖的表面狀態(tài)會(huì)影響此類(lèi)儀器的操作性、可控制性、工作穩(wěn)定性、可靠性以及其它性能的發(fā)揮。探針及其相關(guān)技術(shù)的研究進(jìn)展成為人們十分關(guān)注的問(wèn)題。探針對(duì)表面物理信息的檢測(cè)是一個(gè)針尖與試樣表面相互作用的過(guò)程，包含物理、幾何關(guān)系，還包含表面微觀化學(xué)作用及其它微觀因素的影響。本文探討探針與表面相互作用關(guān)系，并就近些年探針技術(shù)發(fā)展討論探針性能?p針尖及相應(yīng)結(jié)構(gòu)的改進(jìn)，探針功能的拓展以及功能的組合，討論相關(guān)制備技術(shù)方法、特點(diǎn)和相應(yīng)檢測(cè)條件、適用環(huán)境等。