2023年12月17日，“2023年度北京市電子顯微學年會”在北京成功舉辦，由北京理化分析測試技術學會電子顯微學專業委員會主辦。此次會議旨在提升北京及周邊省市電子顯微學的學術和技術水平，促進電子顯微學工作者在材料科學、生命科學等領域的應用、發展和交流。會議邀請了多位專家學者進行先進的電子顯微學報告，同時多家儀器廠商也介紹了最新儀器設備和相關應用技術進展。中鏡科儀應邀出席了本次年會，并展現了國產品牌的最新成果與技術創新水平。

韓華研究員首先詳細講解了微觀腦連接圖譜的三維電鏡技術進展，他指出，隨著科技及理論的不斷創新發展，電鏡技術也在日益精進。接著，他介紹了面向切片陣列的三維電鏡高通量成像技術，該技術可實現跨平臺的電鏡切片陣列智能化成像和成像質量質量檢測與反饋，為生物醫學等領域的研究提供了一個更為準確、高效的路徑。這一技術的出現，無疑將推動相關領域的研究取得更為顯著的進展。

報告初，孫飛研究員指出，目前我國整體高端科學儀器產品進口率超70%，隨著一批核心技術、一批科研機構被美國列入管制名單，嚴重影響了我國科研創新能力的發展。因此，亟需探索高端科學儀器國產化。近年來我國科研工作者、儀器企業等在掃描電鏡、冷凍電鏡、透射電鏡行業不斷取得技術突破，未來有望持續突破海外廠商壟斷。 

孫飛研究員團隊在電鏡關鍵技術裝備研發方面也取得了重要進展，從30kV開始，到突破關鍵部件（120kV）再到向整機研制進發，成功突破了高壓場發射電子槍技術、高穩定高壓電源技術、100kV電磁透鏡組系統等關鍵核心技術。 

最后他提出我國要實現高端科學儀器的自主研制，應該從核心技術、關鍵部件、整機研制三個層面切入，整合全國力量，統籌經費投入和項目布局；其次應形成產學研相互結合、相互促進的態勢；最后應重視人才的培養，開設相關課程和專業，為高端儀器自主研制可持續發展儲備人才。

先進TEM表征技術對于研究離子、中子、電子輻照產生的晶體缺陷具有舉足輕重的作用，利用TEM分析技術可以對輻照位錯環柏氏矢量、間隙空位特性、位錯以及空洞尺寸數密度等進行分析，也可以對輻照產生的成分偏析、相變等進行分析，從而理解輻照損傷產生的機理。 

原位輻照+TEM表征技術對于理解輻照損傷產生的動態過程具有重要意義，利用原位離子輻照技術可以快速獲得不同輻照溫度、劑量等條件下的輻照損傷情況；此外可以對輻照損傷產生的實時過程和機理進行理解分析。

四維電子能量損失譜技術（4D-EELS）是基于掃描透射電子顯微鏡的角分辨、并行電子散射探測方案的一種測量技術。它能夠實現空間、動量、能量的同時分辨，其空間分辨能力提升了約5個數量級，并且更便利、高效。這一技術的應用為納米科學研究提供了新的有力工具，未來隨著技術的不斷發展，它的應用領域將進一步擴大。

4D-STEM技術以其卓越的空間分辨率、時間分辨率以及單電子靈敏度，為材料微觀結構的精確表征提供了強有力的手段。報告中，結合實際案例，詳細地闡述了該技術在不同領域的廣泛應用，展示了其在科學研究和技術創新中的重要地位。

孫異臨研究員結合自身豐富的臨床經驗詳細解答了如何做好一名超微病理醫生。首先要具有扎實的醫學基礎和豐富的臨床經驗，對準備診斷的病理標本的組織學、解剖學等超微結構特點要了如指掌，并了解該病例患者的臨床資料，全方位綜合考慮，才能做出正確的電鏡診斷結論。其次要熟悉生物電鏡標本制備技術，嚴謹、細致的把好每一關，苛求把每例標本都做成精品。最后要熟練操作和使用電鏡儀器設備，只有精益求精，將每一個步驟都盡可能做到極致，才能成為一名合格的電鏡病理診斷醫生。

會議期間，中鏡科儀憑借出色的研發創新能力和優異的產品性能，吸引了眾多參會專家和學者的廣泛關注，充分展示了國家級高新技術企業的實力和價值。中鏡科儀將始終堅持提升科技創新能力，加大研發投入，不斷突破核心技術，為廣大用戶提供更優質、更便捷的產品和服務。

來源：儀器信息網